Search
Now showing items 1-5 of 5
การวัดสนามแม่เหล็กของหัวเขียนโดยใช้การเปลี่ยนแปลงเฟสของกล้องจุลทรรศน์แรงแม่เหล็ก
ในวิทยานิพนธ์ฉบับนี้ กล้องจุลทรรศน์แรงแม่เหล็กเชิงปริมาณได้ถูกพัฒนาและใช้ในการทดลองเพื่อตรวจวัดสนามแม่เหล็กของหัวเขียนแม่เหล็ก โดยทั่วไปแล้วกล้องจุลทรรศน์แรงแม่เหล็ก (magnetic force microscopy : MFM) มีความคล้ายกับกล้อง ...
Physical and magnetic characterization of magnetic force microscopy tips
;
การวิเคราะห์คุณลักษณะทางกายภาพและแม่เหล็กของหัววัดกล้องจุลทรรศน์แรงแม่เหล็ก
A conventional magnetic force microscopy (MFM) technique is usually employed to image magnetic domains and patterns of ferromagnetic materials. This requires MFM probes that have an ultrahigh resolution for imaging small ...
Analysis of Wide Area Adjacent Track Erasure in Magnetic Write Heads using Magnetic Force Microscopy
;
การวิเคราะห์การลบแทร็คข้างเคียงเป็นพื้นที่กว้างของหัวบันทึกข้อมูลแม่เหล็กด้วยกล้องจุลทรรศน์แรงแม่เหล็ก
Wide area adjacent track erasure (WATEr) is one of significant problems limiting the performance of magnetic write heads. This problem leads to the stored data near and also far from a written track being erased. Typically, ...
Apparatus for measuring frequency and magnetic response of magnetic force microscopy probes
;
เครื่องมือสำหรับวัดการตอบสนองต่อความถี่และสนามแม่เหล็กของหัววัดกล้องจุลทรรศน์แรงแม่เหล็ก
Characterization and inspection of magnetic force microscopy (MFM) probes are generally done in a conventional atomic force microscope (AFM) with a patterned magnetic recording media as a test sample. During the characterization, ...
A study of remnant field of magnetic write heads using magnetic force microscopy
;
การศึกษาสนามแม่เหล็กคงค้างของหัวเขียนแม่เหล็กโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แรงแม่เหล็ก
One of main problems in manufacturing a perpendicular magnetic recording head is the write head remanence, which is the remaining out-of-plane magnetic field on the magnetic write head. The remnant field can write unwanted ...